Power Integrity - PDN頻域Z參數解析

     Take-away: 

  1. 常用「IC pad/bump點的頻域Z參數」當作PI分析參數
  2. PDN Z參數不能只能看共振點,各段都要仔細分析。
  3. 改善PDN共振點,需知道共振點的成因,找出共振點對應的LC
  4. 拼命加電容不一定能改善PDN,要確切知道問題點才有效。
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Power的穩定性是工程師的一大挑戰,往往可能比signal更令人頭疼。
一般人常認為power的特性難以估計、千變萬化,只能拼命加電容。
但其實仔細觀察、一步一步的拆解、抓住關鍵參數,還是有跡可循的喔!
筆者將介紹PDN頻域分布、時域波型、layout設計、電容選擇、電流抽載...等。
本篇由PDN頻域開始!

(如下圖) 觀測點 & Z參數
歐姆定律dV=dI*Z, 其中
    dI為IC電路抽載電流,由內部電路決定。
    dV為電壓變動,目標是電壓變動越小越好。
    Z參數為PDN阻抗分布,是dV/dI兩者橋梁。
我們要穩壓的點是IC內部,所以我們常用「IC pad/bump點的頻域Z參數」當作PI分析參數。
NOTE: 常用「IC pad/bump點的Z參數」當作PI分析參數

(如下圖) PDN頻譜分布
以下為IC pad/bump點的PDN Z阻抗結果,阻抗值隨頻率不同。
可以看到PDN有兩個共振點,分別在8MHz和34MHz。
大部分的Z參數也是類似此圖,有2~3個共振點。
我們仔細的分析PDN Z參數,
將其拆成五段A、B、C、D、E。
由Z參數的斜率,可知道ACE為電容性,BD為電感性。
    A: Die內部電容。
    B: Pad/bump到封裝電容的路徑電感 + 封裝電容的寄生電感。
    C: 封裝電容。
    D: Pad/bump到PCB電容的路徑電感 + PCB電容的寄生電感。
    E: PCB電容。
共振點P1主要由A、B構成。
共振點P2主要由C、D構成。
NOTE: PDN Z參數不能只能看共振點,各段都要仔細分析。

(如下圖) PDN共振點分析
為什麼我們要把PDN拆成這麼細呢?
在此問個有趣的問題,若我們要把「P1往高頻移動,在PCB加10顆電容有用嗎?」
也就是常見手法,一個電容不夠,那就再加一個!

透過PDN Z參數分析,我們知道共振點P1主要由A「Die內部電容」、B「Pad/bump到封裝電容的路徑電感 + 封裝電容的寄生電感」主導,所以P1和PCB電容是幾乎不相關的。
下圖模擬結果,P1在PCB加10顆電容後,peak值和頻率點都幾乎相同。
這結果吻合我們的分析,P1和PCB電容是幾乎不相關的。
若要移動P1,應該要
1. 改善Pad/bump到封裝電容的路徑電感。
2. 選用寄生電感小的封裝電容。
下圖為換了一顆封裝電容後的效果,有效移動了P1。
這次我們要降低P2的peak值。
由前面分析得知,共振點P2主要由C「封裝電容」、D「Pad/bump到PCB電容的路徑電感 + PCB電容的寄生電感」構成。
這次移動P2的方式是改善PKG和PCB layout設計,降低路徑電感。
下圖為結果,P2 peak值有效下降了,可以特別注意P1還是完全不動的(符合預期)。
NOTE: 改善PDN共振點,需知道共振點的成因,找出共振點對應的LC


由上述分析過程,我們知道看PDN不只是看Z參數peak點,要仔細分析各頻段才有用。
若面對PDN問題就是拼命的加電容,不但產品尺寸變大($$)、電容成本上升($$)、產品lift time變短($$),最終PDN還沒改善,這樣可就糟了。
NOTE: 拼命加電容不一定能改善PDN,要確切知道問題點才有效。

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留言

  1. 路過補充一下,通常我們說的共振點指的是Z-profile 谷底的部分
    峰值會稱作反共振點(anti-resonance)
    所以電感+電容起到的共振頻點,其實不是P1, P2兩點而是圖中的兩個谷底

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    1. 我想筆者的想法沒錯,P1與P2是屬於並聯共振點,建議去了解串聯諧振與並聯諧振的概念,就會大概知道了筆者想要表達的意思。

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